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lcr电桥测试仪

简要描述:HIOKI 3535 lcr电桥测试仪
高速LCR仪,采样率可高至120MHz
100kHz~120MHz的宽频带
高速LCR测试(6ms/采样)
拆卸式前置放大器可选择
为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能

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  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2021-04-14
  • 访  问  量:476

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HIOKI 3535 lcr电桥测试仪

高速LCR仪,采样率可高至120MHz

100kHz~120MHz的宽频带
高速LCR测试(6ms/采样)
拆卸式前置放大器可选择
为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能



基本参数
测量参数 |Z|,|Y|,Q,Rp,Rs(ESR),G,X,B,θ,Ls,Lp,Cs,Cp,D(tanδ)
前置放大器
决定的测量量程
前置放大器 9700-01 9700-02 9700-03
Z和R 100mΩ~1kΩ 500Ω~10kΩ 5kΩ~100kΩ
C 1.33pF~15.9μF 0.133pF~3.18nF 0.1pF~318pF
L 1nH~1.59mH 663nH~15.9mH 6.63μH~159mH
θ -180.00°~180.00°

测量频率 量程 100kHz~120MHz
分辨率设置 4位(使用前控制板设置)
100.0kHz~1.000MHz 100Hz幅度
1.000MHz~10.00MHz 1kHz幅度
10.00MHz~100.0MHz 10kHz幅度
100.0MHz~120.0MHz 100kHz幅度
使用GP-IB或RS-232C接口时,分辨率为1Hz。
精度 最大±0.005%,相对于设置值

HIOKI 3522-50 lcr电桥测试仪特点
3522-50使用宽广量程的测试频率及直流来测量阻抗,以使用方便、功能完备和性价比而见长

基本参数
测量参数 |Z|,|Y|,θ,Rp(DCR),Rs(ESR,DCR), G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
测量方法 测量源:恒流10μ~100mA(AC/DC),
或恒压10mV~5V(AC/DC). 检测: 电压,AC或DC
测量频率 DC或者1mHz~100kHz
测量量程 |Z|,|R|,X:10.00mΩ~200.00MΩ(视条件而定)
θ:-180.00~+180.00°,C: 0.3200pF~1.0000F,
L: 16.000nH~750.00kH, D:0.00001~9.99999
Q: 0.01~999.99, |Y|,G,B: 5.0000nS~99.999S
基本精度 |Z|: ±0.08%rdg.,θ: ±0.05°
测量时间 |Z|的典型值 快速:5ms~慢速:828ms
显示 最大显示值99999,LCD背光功能
比较器功能 设定:上、下限值,百分比或绝值。
输出:3档(高,中,低),开路集电极
外部打印 9442(搭配9443/9446/9593-01)
电源供应 100~240V,AC,50/60Hz
体积及重量 313宽×125高×290厚mm,4.5kg
附件 电源线(1),保险丝(1)

LCR测试仪IM3523测量方法:连续测量不同条件
在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。这时,使用1台告诉连续测量不同条件。

LCR测试仪IM3523测量方法:顺畅的进行生产线的设置更改的面板读取功能
为了使用1台LCR测试仪测量多种产品,要求高效率的更改设置。
IM3523的面板保存功能更,最多保存60组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外,可以使用外部控制端口控制面板编号的读取,因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。

可靠的产线检查:接触检查功能
检查4端子测量时样品间的接触不良。
测量LPOT?LCUR间和HPOT?HCUR间的接触电阻,如果在所设置的阈值以上时则显示错误。

 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。
● 在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下,不间断测试,速度是我司以往产品的10倍。
● 内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。
● (测量速度是以往产品3522-50的10倍,大大提高了反复性和稳定性)
● 模式,用于测量变压器线圈比率,互感系数和温度补偿DCR。
● 频率扫描测试(仅IM3533-01)
● 除标准0m/1m以外的2m/4m电缆设置。
● 内置比较器和BIN功能。
● 2ms的快速测试时间

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