是德keysight N1169A-003 覆盖扩展技术 覆盖扩展技术（CET）是 VTEP 和边界扫描的混合技术。它结合了 VTEP 和边界扫描的优点，并增强了是德在线测试系统的总体功能。

是德keysight Silicon nail测试技术 Silicon nail支持用户将有边界扫描功能的器件作为驱动器/接收机使用，来测试非边界扫描器件。由此获得的直接结果是现在不再需要测点或测试探针。事实上，驱动器/接收机现在像基于硅的测试探针一样发挥作用，因此称为“Silicon nail”。

是德keysight Bead probe焊珠探头技术 是德*响应客户的需求，针对当今流/行的印刷电路板（PCB）提供更出色的测试点接入能力。Keysight Medalist 焊珠探头技术能够指/定将测试目标或焊珠探头直接放置到铜信号走线上的方式，几乎能在电路板版图的任何位置提供测试接入点，具有卓/越的测试范围。